DC och HIL-testscenario vs DC+HIL-testscenario

En analys och en jämförelse mellan de olika utvecklade programmen sker under denna rubrik för att tydliggöra bilden om vilket eller vilka testscenario är bättre att använda i verkligheten. Detta arbete utgår från analyseringen av de genomsnittliga exekveringstiderna mellan DC- och HIL-testscenario (ska representeras med S1+S2) på en sida och DC+HIL-scenario på den andra (presenteras med S3). Arbetet utförs genom att köra DC-testprogram, HIL-testprogram och DC+HIL-testprogram separata i tre olika testsystem med hänsyn till att exekveringstiderna för DC- och HIL-testscenarion är relaterade med varandra (tiden fortsätter räknas tills både testerna är klara). Dessutom så sker en jämförelse om hur de olika scenarion upplevas i verkligheten och vilka nackdelar och fördelar de har.

Utvärderingen av exekveringstiderna sker genom att presentera resultaten i ett stapeldiagram (Figur 36) som innehåller exekveringstiderna i Tabell 3 för DC+HIL-testscenario presenterade i grå färg och en sammanslagning av exekveringstider för de utvecklade programmen för DC- och HIL-testscenario presenterade i svartfärg. Denna sammanslagning sker genom att välja den längsta exekveringstiden i Tabell 1 och Tabell 2 för respektive systems tillstånd. Exempelvis, när bildkabeln är urkopplad i DC-testscenariot så betyder det att HIL-testet genomförs på tiden som gäller ett fungerande system (60.46 sekunder), däremot så behöver DC-testet 151,37 sekunder för att genomföras vilket leder till en tid på 151,37 sekunder då HIL- testet slutar genom tidsramen av DC-testet.

Utifrån stapeldiagrammet i Figur 36 observeras följande punkter vid jämförelsen av tidsvärdena mellan DC- och HIL-test på en sida och DC+HIL-test på den andra i respektive systemtillstånd.

• I ett fungerande system så visar både sidorna samma exekveringstid som ligger i 60,46 då alla tester avslutar normalt och den längsta tiden är utförande av HIL-test.

• I ett system med en urkopplad bildkabel i DC-delen så observeras direkt att S1+S2 visar en kortare exekveringstid med 40 % i jämförelse med S3. Denna skillnad förklaras med relationen som DC-delen har med HIL-delen i S3 vilket leder till att HIL-testet ska köras om för att strömma

60.46 90.74 154.83 91.59 77.02 92.34 88.82 78.15 60.46 151.37 165.85 91 .67 169.94 159.21 91.26 175.69 0 20 40 60 80 100 120 140 160 180 200 Se ku n d er

Genomsnittliga värden för exekveringstider i DC- och HIL-test

samt DC+HIL-Test

DC och HIL sammanlagt (S1+S2) DC+HIL (S3)

Figur 36 Genomsnittliga exekveringstider för testprogram i Tabell 1 och Tabell 2 (komponerade) samt Tabell 3. Exekveringstider för DC- och HIL-testprogram (svartfärg) presenteras som genomsnittliga värden av alla exekveringstider i respektive systems tillstånd (fungerande eller icke) där den lägsta exekveringstiden väljs för att presentera båda testen för respektive systems tillstånd. Exekveringstider för DC+HIL-testprogram (grå färg) presenteras som genomsnittliga värden av alla exekveringstider i respektive systems tillstånd. Systems tillstånd presenteras i åtta olika fall, ett fungerande system, ett system med en urkopplad bildkabel mellan BOB3 och ECU i DC-testdelen, ett system med en urkopplad FR-kabel mellan BOB3 och ECU i DC-delen, ett system med en urkopplad USB3-kabel mellan BOB3 och Datorn i HIL-delen, ett system med en urkopplad USB3-kabel mellan BOB3 och Datorn i DC-delen, ett system med en urkopplad ECU-strömkabel, ett system med en urkopplad BOB3-strömkabel i HIL-delen och ett system med en urkopplad BOB3-strömkabel i DC-delen.

bilder till DC-delen vilket i sin tur kräver extra konfigureringstid för repetitionen. Denna problematik ej inträffas i S1+S3 då bilder kommer till DC-delen direkt från en kamera utan något behov till HIL-delen.

• I ett system med en urkopplad FR-kabel mellan BOB3 och ECU i DC-delen visar också S1+S2- sidan bättre exekveringstid med 6,6 % i jämförelse med S3.

En observation märks här att tidsminskningen inte når fallet av en urkopplad bildkabel vilket kan förklaras med två anledningar. Den första är tiden som behövs för felsökningen som är större i den här fallen vilket förstorar tidsintervallen och den andra är det mänskliga utförandet av felsökningen vilket inte är fast och kan variera (minska eller öka) från moment till moment.

• I ett system med en urkopplad USB3-kabel mellan BOB3 och Datorn i HIL-delen så visar både sidorna ungefär samma tider vilket förklaras med att konfigurationen för HIL-Player i S3- sidan avbryts direkt när kommunikationen med BOB3 misslyckas vilket i sin tur eliminerar det extra väntetiden som behövs för att etablera HIL-Player i S3. Denna anledning gör till ett nära exekveringstidsresultat mellan S1+S2 och S3.

• I ett system med en urkopplad USB3-kabel mellan BOB3 och Datorn i DC-delen så visar S1+S2-sidan bättre tid på 54,7%. Detta är logiskt eftersom HIL-testet i S3 fortsätter exekvera och felet upptäcks inte för än exekveringen är klar (efter genomsnittligt 60,4 sekunder) vilket hämtar tillbaka problematiken av relationen mellan DC- och HIL-delen i S3 och väntetiden för HIL-Player konfigurationer. Problematiken som inte inträffar i S1+S2-sidan.

• I ett system med en urkopplad ECU-strömkabel och eftersom HIL-delen i S1+S2 inte har någon inkopplad ECU-hårdvara så klarar denna del testet på samma sett som ett fungerande system medan DC-delen misslyckas vilket kräver att HIL-delen i S3 körs om efter utförandet av testet för att

leverera bilder till DC-delen där felet inträffar. Detta beteende av S3-testscenario leder till en försening på 42 % i jämförelse med S1+S2.

• I ett system med en urkopplad BOB3-strömkabel i HIL-delen så beter S1+S2 och S3 sig på samma sätt som fallet av en urkopplad USB3-kabel i HIL-delen och skillnaden på exekveringstiderna är bara 2,67 % vilket förklaras med direkt avbrytningen i HIL-testet i S3-sidan. • I ett system med en urkopplad BOB3-strömkabel i DC-delen så resulteras samma beteende i

sidorna som beteendet i fallet av en urkopplad USB3-kabel i DC-delen vilket ökar tidsminskningen mellan S1+S2 och S3 med 55,5 % då HIL-testet i S3 fortsätter exekvera och felet i DC-testet inte upptäcks förrän hela exekveringen utförs.

Utifrån dessa observationer bedöms att utförandet av tester separata är mer effektivt än utförandet av testen (DC och HIL) i ett kombinerat system särskilt när fel inträffar och en felsökning sker vilket kan skapa större förseningar när testen är relaterade till varandra.

Det finns dock vissa fördelar vid användningen av DC+HIL-testscenario i jämförelse med S1+S2 i verkligheten. En av fördelarna dyker upp ifall en ECU-hårdvara används också med HIL-testscenariot (inte bara en FR-loop i systemet) vilket ökar behovet till fler hårdvaruresurser vid användningen av S1 och S2 istället.

En annan fördel presenteras med de returnerade bildernas data i DC-testscenariot och DC-delen i DC+HIL- testscenariot där klippet i DC+HIL-testscenario är fast vilket öppnar andra möjligheter för tester eftersom bildernas data är välkända och redan arkiverade i en databas. En möjlighet som inte är tillgängligt vid användningen av DC-testscenario separat då bilderna kommer direkt från en kamera och svårt att prediktera.