Josef Kužel RNDr. Karel Žídek, Ph.D.
Analýza gradientních tenkých vrstev pro optické pokrytí s vysokou laserovou odolností
Výborn minus (1 ) Velmi dob e (2) Výborn minus (1 ) Výborn minus (1 ) Dob e (3)
Velmi dob e (2) Dob e (3)
Spln no Velmi dob e (2) Velmi dob e (2) Dob e (3)
Velmi dob e (2)
Téma práce Josefa Kužela (dále JK) má zna ný potenciál pro charakterizaci vrstev s gradientním pr b hem indexu lomu. Samotná práce má dob e nakro eno k tomu splnit všechny cíle, není ale dotažená do konce. To je obzvlášt patrné, mimo jiné, na grafické stránce práce v rešeršní ásti.
JK po teoretické stránce adaptoval maticovou teorii pro výpo et optických charakteristik tenkých vrstev pro gradientní vrstvy. Vytvo il pot ebný aparát, chybí však d kladná diskuse, nakolik je možné získat jednozna nou informaci o pr b hu gradientu.
Cíle práce byly p ehodnoceny díky možnosti experimentáln deponovat gradientní vrstvy, tj. možnosti porovnat p ipravenou teorii s experimentálními výsledky. Zde JK provedl srovnání s teorií pomocí prvního nást elu parametr , které nebylo nijak optimalizováno, a které tedy vedlo k nesouladu s výsledky. To je v práci uvedeno, ale bez bližší diskuse.
Tyto nedod lky zcela zbyte n snižují úrove práce, která mohla mít velmi dobrou úrove .
Možnost deponovat tenké vrstvy s gradientním indexem lomu otevírá celou adu nových možností p i navrhování optického pokrytí element díky optimalizaci pr b hu gradientu. Cílem práce bylo vyjasnit, nakolik je možné optickým monitorováním vrstev (elipsometrií a transmisní/reflexní spektroskopií) ur it pr b h gradientu indexu lomu. Tato znalost je zásadní pro kontrolovanou depozici gradientních vrstev. JK se seznámil s problematikou výpo tu optických vlastností tenkých vrstev maticovou metodou, kterou implementoval v jazyce Matlab a následn adaptoval tuto metodu pro gradientní vrstvy. Asistoval p i prvních testovacích depozicích gradientních vrstev Si-SiO2, které jsou (v prvotním nást elu) modelovány vytvo eným výpo etním aparátem.
Práce, která má jinak zna ný potenciál, trpí po v cné i formální stránce tím, že nebyla zcela dotažena do konce. Sepsání práce t sn p ed termínem odevzdání nedalo, bohužel, prostor uvedené chyby napravit.
1) Nakolik je možné pomocí optické charakterizace ur it pr b h gradientu indexu lomu v tenké vrstv ?
2) Z jakých d vod se neshodují experimentální data gradientní vrstvy Si-SiO2 s teoretickým p edpokladem?
3) Použitá teorie p edpokládá, že známe velmi p esn index lomu gradientní vrstvy na jejím za átku a konci a fitujeme pouze p echod mezi t mito k ivkami. Platí tento p edpoklad obecn ? Jinými slovy - dosáhneme p i dobré znalosti hrani ních index lomu vždy dobrého popisu reálné vrstvy?
0
Práce spl uje požadavky na ud lení akademického titulu, a proto ji doporu uji k obhajob Velmi dob e (2)
Turnov 17.5.2019
